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PLIF

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產品名稱: PLIF
產品型號:
產品展商: REANOW/雷若科技
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

PLIF是一種通過激光來激勵特定的原子分子并觀察其產生的發光、獲得激勵光譜,從而知道來自其強度的原子分子的濃度,并從光譜分布中了解溫度的測量方法。隨著可調諧激光技術的發展,LIF已被作為光譜測量的基本技術被廣泛使用。Koncerto-LIF是一款能夠控制ICCD和EMCCD等超高靈敏度相機,并集成了顯示和分析高位圖像的各項必要功能的成像測量軟件。


PLIF  的詳細介紹

產品簡介:

LIF是一種通過激光來激勵特定的原子分子并觀察其產生的發光、獲得激勵光譜,從而知道來自其強度的原子分子的濃度,并從光譜分布中了解溫度的測量方法。隨著可調諧激光技術的發展,LIF已被作為光譜測量的基本技術被廣泛使用。Koncerto-LIF是一款能夠控制ICCD和EMCCD等超高靈敏度相機,并集成了顯示和分析高位圖像的各項必要功能的成像測量軟件。


產品特點:

◆相機控制功能 

 兼容各種制造商和型號。可以同時控制多個攝像機和圖像顯示。 

◆相機對齊功能 

 它是一個調整功能,以均衡兩個攝像機的視角。使用校準目標調整視角。首先,使用相機對齊輔助功能使兩個相機的視角盡可能相等。然后通過軟件進行微調。 

◆控制定時控制器 

 定時控制器LC880被實時控制,并且執行構成諸如照相機和激光器的系統的設備的同步控制。 

◆激光強度監視器 

 在LIF中,每個像素的亮度值通常被轉換為密度,溫度等,并且激光強度發射之間的變化引起測量誤差。Koncerto- LIF可以測量和記錄圖像采集時的激光強度,并校正由于幀之間激光強度波動引起的測量誤差。 

◆顯示高位圖像 

 可以清晰易懂的顯示16位等高位圖像。 

◆分析/顯示功能 

 它具有微鏡分析所需的各種功能,例如實時相機圖像顯示功能,偽彩色顯示,平均操作,計算,空間亮度分布變化校正,圖像校正,校準(比例因子,標量)。 

◆共聚焦掃描儀控制 

 可以對橫河電機CSU系列進行控制,實現微成像的高速和高空間分辨率。 

◆壓電式聚焦掃描儀控制 

 可以使用壓電聚焦掃描儀高速掃描焦平面以進行微成像。它可以與各種相機一起聯動掃描,例如定時拍攝和微型拍攝。


技術參數:


◆LIF的燃燒測量  

利用LIF的燃燒測量可以測量丙酮,OH, CH, NO等氣體分子種類以及它們的瞬時分布。在LIF中,根據圖像進行的平面LIF測量被稱PLIF(圖像激光誘導熒光、平面激光熒光)。PLIF是使用ICCD 等超高靈敏度攝像機的LIF系統,是一種非常有效的燃燒測量和分析方法。

◆基于LIF的液膜厚度測量 

對軸承或油封等油膜的厚度分布進行測量,使噴霧狀況和附著情況可視化。只需對測量對象添加微量熒光色素即可進行測量,因此能夠進行非接觸、非破壞性的測量。在膜厚度分布薄的情況下可以進行高達亞微米級的定量測量,因此可以對各種膜進行測量。

 

◆微型LIF 

在微LIF的情況下,可以測量濃度分布,溫度分布,擴散,混合, 反應,PH等。專用的微光學系統可以同軸地外照射高功率UV脈沖激光,這對于普通顯微鏡是不可能的。 

 

◆多層  

可以同時測量多子種、溫度、速度等。例如,丙酮在280nm顯示吸收峰值,熒光在435nm附近可見。由于OH基團在283nm處被誘導并 且在315nm附近瞬間發出熒光,因此可以進行同時測量


配置清單:

LIF系統組件列表    

·控制/分析軟件Koncerto-LIF 

·高靈敏度ICCD相機 

·LIF光學系統 

·YAG激光 

·染料激光 

·圖像增強器(image intensifier:視頻信號放大器)

·定時控制器

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